Spectroscopic Ellipsometry and Multi-Wavelength Raman Characterization of Bridgman-Grown Layered TlGaSe2 Single Crystal

MECİT G., IŞIK M., Corapci C., HASANLI N.

Turkish Physical Society 42nd International Physics Congress, Muğla, Türkiye, 04 Eylül 2026, (Özet Bildiri)

  • Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
  • Basıldığı Şehir: Muğla
  • Basıldığı Ülke: Türkiye
  • TED Üniversitesi Adresli: Evet