AN INVESTIGATION OF THE INTERFACE ELECTRONICS STRUCTURE OF SI-SIO2 JUNCTIONS

CIRACI S., Ellialtıoğlu S. Ş., ERKOC S.

JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY, cilt.21, sa.2, ss.402-404, 1982 (SCI-Expanded)

• Yayın Türü: Makale / Tam Makale
• Cilt numarası: 21 Sayı: 2
• Basım Tarihi: 1982
• Doi Numarası: 10.1116/1.571664
• Dergi Adı: JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY
• Derginin Tarandığı İndeksler: Science Citation Index Expanded (SCI-EXPANDED)
• Sayfa Sayıları: ss.402-404
• TED Üniversitesi Adresli: Hayır