AN INVESTIGATION OF THE INTERFACE ELECTRONICS STRUCTURE OF SI-SIO2 JUNCTIONS

CIRACI S., Ellialtıoğlu S. Ş., ERKOC S.

JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY, cilt.21, sa.2, ss.402-404, 1982 (SCI-Expanded) identifier identifier

  • Yayın Türü: Makale / Tam Makale
  • Cilt numarası: 21 Sayı: 2
  • Basım Tarihi: 1982
  • Doi Numarası: 10.1116/1.571664
  • Dergi Adı: JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY
  • Derginin Tarandığı İndeksler: Science Citation Index Expanded (SCI-EXPANDED)
  • Sayfa Sayıları: ss.402-404
  • TED Üniversitesi Adresli: Hayır